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【工作簡(jiǎn)介】在鈉離子電池（SIBs）中，低的初始庫(kù)侖效率（ICE）通常是由不可逆的相轉(zhuǎn)化和困難的解吸引起的，尤其是在過渡金屬化合物（TMCs）上。然而，反應(yīng)可逆性差的潛在物理化學(xué)機(jī)制仍然是一個(gè)有爭(zhēng)議的問題。近日，廈門大學(xué)廖洪鋼教授等團(tuán)隊(duì)通過使用原位透射電子顯微鏡和原位X射線衍射，證明了NiCoP@C是由P在碳層中的快速遷移和放電過程中分離的Na3P的優(yōu)先形成引起的。通過對(duì)碳涂層進(jìn)行改性，抑制了Ni/Co/P原子的遷移，從而提高了ICE和循環(huán)穩(wěn)定性。抑制引起組分分離和快速性能退...

掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺(tái)上，在掃描電鏡中制造可控的環(huán)境并且可以對(duì)實(shí)驗(yàn)樣品原位加熱。可對(duì)樣品進(jìn)行可控溫度的加熱，電學(xué)測(cè)量芯片可對(duì)樣品進(jìn)行電性質(zhì)測(cè)量。并可在進(jìn)行加熱和電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，極大拓展了透射電鏡的功能和應(yīng)用范圍。使用同一個(gè)SEM樣品臺(tái)既可以實(shí)現(xiàn)不同的原位解決方案電學(xué)、加熱等不同應(yīng)用。本公司提供的CHIP-NOVA掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)有優(yōu)異的熱學(xué)性能：1.高精密紅外...

在透射電鏡中實(shí)時(shí)表征材料在加熱或加電條件下原子尺度結(jié)構(gòu)及成分變化對(duì)于理解材料的熱學(xué)、電學(xué)性能以及微觀結(jié)構(gòu)演化具有至關(guān)重要的意義。透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建熱、光復(fù)合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測(cè)量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)樣品在真空環(huán)境下隨溫度、光場(chǎng)變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級(jí)結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。透射電鏡雙傾光熱...

透射電子顯微鏡(TEM)是使用較為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術(shù)共同組成了電子顯微學(xué)的“兩大支柱”。TEM的測(cè)試原理是利用透過樣品的電子進(jìn)行成像和結(jié)構(gòu)分析，由于電子的穿透能力較弱，樣品的厚度、導(dǎo)電性、磁性和分散性等特征對(duì)測(cè)試結(jié)果的好壞起到直接的影響。因此，相比于掃描電鏡樣品的制備，透射電鏡的制樣更加復(fù)雜和精細(xì)，對(duì)于不同的材料應(yīng)當(dāng)根據(jù)其特性并采用合適的制樣方法。TEM測(cè)試中，為了獲取高質(zhì)量的樣品圖像，制樣很關(guān)鍵。在制樣的過程中，其中載網(wǎng)的選擇也是至關(guān)重要。載網(wǎng)通常是一...

透射電鏡是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來的顯微鏡。透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿基于樣品端超薄設(shè)計(jì)或360°旋轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)，滿足生命科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域?qū)θS重構(gòu)表征的不同需求。透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿通過一系列不同傾斜角獲得樣品的二維平面成像信息，使用軟件處理后可獲得三維立體成像信息。直接使用3mm銅網(wǎng)樣品進(jìn)行觀察，支...